SPI NAND 的 tCLQV：图解下降沿输出、上升沿采样与读时序

Wed, 04 Nov 2026 00:00:00 +0000

读 SPI NAND 时，一个很容易混淆的问题是：为什么手册说下降沿输出数据，而主控又在上升沿采样？

这里涉及两个不同的动作：发送端更新输出，接收端采样锁存。对于本文讨论的常见 SDR、Mode 0 / Mode 3 读数据阶段，NAND 在下降沿触发输出更新，主控通常在随后的上升沿采样。tCLQV 描述下降沿到新数据有效之间的延迟。

本文使用 Etron EM73D044VCS-H 手册中的参数作为示例，并明确标出计算假设。配图是重新绘制的教学示意，不是示波器实测波形。具体芯片、控制器和 DDR / DTR 模式，应查对应手册。

1. 谁提供时钟，谁输出数据，谁采样？

先分清信号的方向。以标准单线 SPI 为例：¹

信号	方向	作用
SCLK	主控 → NAND	提供传输节拍
CS#	主控 → NAND	选中芯片，界定命令事务
MOSI / SI	主控 → NAND	发送命令、地址或写入数据
MISO / SO	NAND → 主控	返回读数据或状态

图 1：本文聚焦读数据阶段。Quad 读会并行使用多根 IO，每根都要满足相应时序要求。可打开原图放大查看。

“输出更新”指发送端把下一位数据送到引脚；“采样”指接收端在一个选定时刻读取引脚，并将电平锁存下来。

阶段	发送端	接收端	常见 Mode 0 / 3 的边沿关系
发送命令、地址	主控	NAND	主控在下降沿更新，NAND 在上升沿锁存；传输首位需按模式提前准备
读取数据	NAND	主控	NAND 在下降沿触发输出更新，主控通常在随后上升沿采样

使用硬件 SPI时，软件配置模式、频率、传输长度并提交数据；控制器内部的分频器、移位逻辑和接收逻辑负责生成与执行时序。CPU 通常无需为每个 bit 手动翻转时钟。

2. tCLQV 到底表示哪一段时间？

常见符号是 tCLQV，英文为 Clock Low to Output Valid。可以按 CL → QV 来理解：从时钟下降沿，到输出数据有效。若看到 tQLCV，先核对字母顺序和该手册的参数说明。²

两个参数一起看，会更清楚：

参数	说明	如何使用
`tCLQV(max)`	下降沿后，新数据最迟多久有效	判断采样是否太早
`tCLQX(min)`	下降沿后，旧数据至少保持多久	配合下一次下降沿，确定本拍数据最早可能失效的时刻

本文参考颗粒规定 tCLQV(max)=7 ns、tCLQX(min)=2 ns，对应温度 −40～85 ℃、VCC 2.7～3.6 V、负载 30 pF。这不是所有 SPI NAND 的通用数值。

2.1 放大 50 MHz 的一拍读数据

假设时钟为 50 MHz、占空比 50%，周期就是 20 ns。以下把读数据阶段某次下降沿记作 0 ns，暂时忽略走线延迟。

图 2：按规格保证边界绘制，而不是假定每次实际延迟都恰好为 7 ns。可打开原图放大查看。

时刻	发生什么	如何理解
0 ns	SCLK 下降沿	NAND 开始响应这次输出更新
0～2 ns	旧数据仍有保持保证	不能立刻把引脚电平当作新数据
2～7 ns	规格不保证属于旧数据还是新数据	是有效性不确定区，并非电平必须一直跳变
最迟 7 ns	本拍新数据有效	实际延迟可以小于 7 ns
10 ns	随后上升沿，主控采样	相对最晚有效时刻还有 3 ns，仍需扣除主控建立时间等预算
20 ns	下一次下降沿	开始更新下一拍，本拍数据仍有最小保持保证
22 ns	本拍的保证有效区到达右边界	之后不再保证仍是本拍数据

不确定区不等于持续翻转。 如果相邻两拍都是 1，引脚甚至可能没有明显跳变，时序约束仍然存在。

2.2 采样前后都需要数据稳定

主控的接收器还有两个要求：

建立时间 tSU,RX：采样前，数据需要已经稳定多久。
保持时间 tH,RX：采样后，数据还需要继续稳定多久。

所以“数据刚好在采样时刻变有效”通常仍不够。真正应寻找的是：能够容纳建立时间和保持时间的采样窗口。

3. 为什么选择下降沿更新？能在上升沿采样吗？

可以，在 Mode 0 / 3 中，上升沿正是通常的采样边沿。

将更新与采样安排在不同边沿，是为了给数据传播和稳定留时间。若发送端刚在某个边沿触发更新，接收端就在同一时刻采样，新数据可能尚未到达，读到的仍可能是上一拍。

3.1 CPOL 和 CPHA 分别管什么？

CPOL：时钟空闲时是高电平还是低电平。
CPHA：在第一个边沿还是第二个边沿采样。

两个配置组合成四种模式：³

模式	CPOL	CPHA	空闲电平	更新输出	采样输入
Mode 0	0	0	低	下降沿*	上升沿
Mode 1	0	1	低	上升沿	下降沿
Mode 2	1	0	高	上升沿*	下降沿
Mode 3	1	1	高	下降沿	上升沿

* CPHA=0 时，传输首位必须在第一个采样边沿前准备好。图 2 放大的是已有时钟运行的读数据阶段，不是 CS# 刚拉低时的第一个边沿。

图 3：Mode 0 和 Mode 3 都在上升沿采样，但传输起点不同；此图暂不展开电气传播延迟。可打开原图放大查看。

3.2 能交换两个边沿的职责吗？

“上升沿更新、下降沿采样”在 SPI 中也存在，对应 Mode 1 / 2。但必须主控与 NAND 双方都支持。

例如本文参考颗粒支持 Mode 0 / 3。仅把主控的 CPHA 改掉，不会改变 NAND 支持的模式。通信双方若没有遵循同一套时序约定，就可能读取错误。

4. 把一拍时序放回完整的 NAND 读操作

常见缓存读取流程分为三步：发起内部页读、等待就绪、通过 SPI 读取 Cache。下图用参考颗粒的命令举例：²

图 4：流程段不按实际时间比例；轮询可重复多次，各命令事务的 CS# 边界按手册处理。可打开原图放大查看。

Page Read，13h：提交行地址，让芯片把目标页从存储阵列读入 Cache。
Get Feature，0Fh：读取状态，等待内部操作结束，并按手册检查相关状态。
Read Cache，0Bh：提交列地址和规定的 Dummy，再读取缓存数据。

示例颗粒的 0Bh 命令后跟 16-bit 列地址和一个 Dummy byte，再输出数据；其他芯片、指令或模式可能不同。

4.1 tR、Dummy 与 tCLQV 不能混为一谈

概念	约束哪个阶段	常见单位
`tR`	芯片内部把一页从阵列读到 Cache	µs
Dummy cycles	读命令规定的、有效数据开始前的等待时钟	周期数
`tCLQV`	数据输出期间，每拍下降沿到新数据有效	ns

增加前导 Dummy 并不会自动扩大后续每一拍的采样窗口。 如果每一拍都因频率太高而采样过早，应检查数据阶段的时钟频率和采样位置。

5. 为什么 50 MHz 正常，100 MHz 可能读错？

50% 占空比下，50 MHz 的半周期是 10 ns，100 MHz 的半周期只有 5 ns。若 tCLQV(max)=7 ns，100 MHz 的默认上升沿可能早于新数据有效。

这说明这个采样位置无法覆盖最坏情况，并不等于 NAND 本身的最大频率只能到约 71 MHz。

5.1 用一个简化模型算清楚

以下以本拍下降沿为 0，忽略走线延迟、时钟偏斜和抖动：

量	计算方式
周期 `T`，单位 ns	`T = 1000 / f(MHz)`
采样时刻	`t_sample = T / 2 + δ`
最早允许采样	`tCLQV(max) + tSU,RX`
最晚允许采样	`T + tCLQX(min) − tH,RX`

δ 是相对随后上升沿的采样延后。采样时刻应落在上述两个边界之间；实际设计还需留出额外裕量。

tSU,RX、tH,RX 是主控接收器的要求。NAND 手册中的输入建立、保持时间，例如 tDVCH、tCHDX，约束的是 NAND 接收命令或写数据，不能直接拿来当作主控读数据的要求。

5.2 三个采样场景放在一起比较

取 tCLQV(max)=7 ns、tCLQX(min)=2 ns，并假设主控建立时间为 1 ns、保持时间为 0.5 ns：

图 5：三行使用相同时间比例。深绿色条是已经扣除主控建立、保持要求的可采样区间。可打开原图放大查看。

场景	周期 T	采样时刻	允许采样区间	结论
50 MHz，默认上升沿	20 ns	10 ns	8～21.5 ns	落在窗口内，最小剩余裕量 2 ns
100 MHz，默认上升沿	10 ns	5 ns	8～11.5 ns	采样过早，建立侧还差 3 ns
100 MHz，延后 4 ns	10 ns	9 ns	8～11.5 ns	落在窗口内，最小剩余裕量 1 ns

有些控制器支持接收采样时钟移相。例如 ST 的 QUADSPI 应用文档介绍了 SDR 采样移位功能。具体能延后多少、相对哪个边沿、适用哪些模式，需要查对应主控手册。⁴

这也解释了“芯片支持 104 MHz”与“最坏输出延迟为 7 ns”为什么可以同时成立：系统还需要在正确的数据窗口内采样，不能只检查标称最大频率。

采样也不是越晚越好。 在上面的 100 MHz 示例中，若采样移到 14 ns，保持侧会超出窗口 2.5 ns，已无法保证锁存本拍数据。

6. 测试和调试时，按什么顺序检查？

确认模式和指令。 核对 Mode、SDR / DDR、x1 / x4、Dummy 配置；先确保协议阶段正确。
收集两端参数。 NAND 侧关注 tCLQV(max)、tCLQX(min)；主控侧关注接收建立、保持和采样移位能力。
核对电气条件。 温度、电压、负载、驱动能力、板级传播和时钟抖动都会影响实际裕量。
看有翻转的数据波形。 可使用已有测试数据中的 0xAA / 0x55 等模式。在 NAND 引脚附近观察 SCLK 与输出数据，采用手册规定的测量阈值，考虑探头负载和通道间时差。
扫描可用窗口。 先低频确认数据，再扫描频率或控制器支持的采样延迟；寻找连续正确区间，选择中间位置，并在目标电压、温度和负载下复核。

一次读取成功，并不能证明所有条件下都满足时序；而一个采样位置失败，也不等于 NAND 阵列中的存储数据一定损坏。

7. 一个贴近工作的练习

已知：

SPI 时钟 100 MHz，占空比 50%。
tCLQV(max)=7 ns，tCLQX(min)=2 ns。
主控建立时间 1 ns，保持时间 0.5 ns。
暂时忽略板级延迟和抖动。

问题：把主控采样放在下降沿后 9 ns，是否满足这个简化模型？

参考答案：周期为 10 ns，允许采样区间为 [7+1, 10+2−0.5]，即 8～11.5 ns。

9 ns 落在其中，建立侧剩余 1 ns、保持侧剩余 2.5 ns，因此最小剩余裕量为 1 ns。它相当于比随后 5 ns 的上升沿延后 4 ns。

能否在真实硬件上采用这个设置，还取决于控制器支持的采样位置与实际板级时序。

理解这些参数时，先抓住一个先后关系：发送端触发更新，等数据有效，接收端再在窗口内采样。

参考资料

Analog Devices：Introduction to SPI Interface。SPI 信号方向、数据移出与采样的基本概念。 ↩︎
Etron EM73D044VCS-H SPI NAND Flash Datasheet，Rev 1.1。第 12 页 SPI 模式；第 19～20 页页读和读缓存；第 35～36 页 AC 参数与输出时序。本文 7 ns / 2 ns 只作为该手册条件下的规格示例。 ↩︎ ↩︎
Microchip：SPI Transfer Modes，表 31-3。CPOL、CPHA 与前后边沿的对应关系。 ↩︎
STMicroelectronics：AN4760，Introduction to Quad-SPI。采样移位及相关功能；具体设置请查目标主控参考手册。 ↩︎

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